CD/DVDケース外観画像検査装置
CD/DVDアッセンブリ検査装置

<非検査材>
CD/DVDアッセンブリ前/後ケース
<検査項目>
異品、ラベル有無/異品、バーコード異品
CD/DVDアッセンブリ前/後ケース
<検査項目>
異品、ラベル有無/異品、バーコード異品

<検査方法>
画像処理、バーコードリーダー
<処理能力>
80枚/分
画像処理、バーコードリーダー
<処理能力>
80枚/分
缶カートンの総合検査装置

<対象カートン>
(135ml、250ml)、350ml、500ml用カートン
<検査項目>
糊付け状態 : ホットメルトの位置、面積
印字状態 : 賞味期限/製造年月日の文字品質、文字欠け、斜め文字、ライン欠け
成形不良 : 糊付け面からの浮き量、斜め成形
異品種混入 : 商品コードと絵柄による判定
処理能力 : Max100カートン/分
検出目標 :不良品の見逃しなし
(135ml、250ml)、350ml、500ml用カートン
<検査項目>
糊付け状態 : ホットメルトの位置、面積
印字状態 : 賞味期限/製造年月日の文字品質、文字欠け、斜め文字、ライン欠け
成形不良 : 糊付け面からの浮き量、斜め成形
異品種混入 : 商品コードと絵柄による判定
処理能力 : Max100カートン/分
検出目標 :不良品の見逃しなし
シリコンウェハ 結晶欠陥検査装置

<ウェハサイズ>
300mm、200mm、150mm
<測定箇所>
・X-Y、全面、任意ピッチスキャンなど多種
・検査エリア座標の事前設定も可能
<検査項目>
・OSF密度(オートローダを用いた全自動測定)
・BMD密度(X-Yステージへのサンプル設置のみ手動)
・DZ層幅(X-Yステージへのサンプル設置のみ手動)
<検査時間>
OSF密度/BMD密度/DZ層幅とも5分/ウェハ以内
<その他>
目視との相関誤差:10% 以内
保存画像量 10,000枚以上(BMP形式)
300mm、200mm、150mm
<測定箇所>
・X-Y、全面、任意ピッチスキャンなど多種
・検査エリア座標の事前設定も可能
<検査項目>
・OSF密度(オートローダを用いた全自動測定)
・BMD密度(X-Yステージへのサンプル設置のみ手動)
・DZ層幅(X-Yステージへのサンプル設置のみ手動)
<検査時間>
OSF密度/BMD密度/DZ層幅とも5分/ウェハ以内
<その他>
目視との相関誤差:10% 以内
保存画像量 10,000枚以上(BMP形式)
アスパラ選別機

<検査項目>
長さ、重さ、曲がり、花咲、赤根、白根 <等級判定> 重さによる6階級(2L、○L、L、M、S、2S) 選別基準による4等級(秀、優、良、格外) | <特徴>
①高速処理(12本/s) ②カラー画像処理(色情報利用による欠陥識別) ③画像情報を利用した重量(体積)推定 |
その他、各種インラン/オフライン検査装置設計、製造承ります。
<開発/製造>
